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Nanotechnologie für Ingenieure und Naturwissenschaftler

Nanotechnologie für Ingenieure und Naturwissenschaftler
Type: Lecture
Chair: Department of Mechanical Engineering
Semester: WS 17/18
Time:

Thu, 15:45 - 17:15 weekly
20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2
2017-10-19
15:45 - 17:15

2017-10-26
15:45 - 17:15
20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2017-11-02
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20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2017-11-09
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20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2017-11-16
15:45 - 17:15
20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2017-11-23
15:45 - 17:15
20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2017-11-30
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20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2017-12-07
15:45 - 17:15
20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2017-12-14
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20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2017-12-21
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20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2018-01-11
15:45 - 17:15
20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2018-01-18
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20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2018-01-25
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20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2018-02-01
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20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

2018-02-08
15:45 - 17:15
20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

Start: 19.10.2017
Lecturer:

Prof. Dr. Martin Dienwiebel (IAM-CMS)
Dr. Stefan Walheim (INT)
PD Dr. Hendrik Hölscher

SWS: 2
Lv-No.: 2142861
Exam: Mündliche Prüfung nach Absprache
Information: Voraussetzung zur Teilnahme sind Grundkenntnisse in Physik, Chemie und Mathematik.

Ziele und Inhalt:

In der Vorlesung werden die wichtigsten Prinzipien der Rastersensormethoden zur Analyse von Oberflächen vorgestellt. Insbesondere folgende Schwerpunkte werden behandelt:

  • Einführung in die Nanotechnologie
  • Geschichte der Rastersondenmethoden
  • Rastertunnelmikroskopie
  • Rasterkraftmikroskopie
  • Reibungskraftmikroskopie und Nanotribologie
  • Nanolithographie

Literatur:

  • Folien zur Vorlesung und Originalliteratur werden in der Vorlesung verteilt.
  • Scanning Probe Microscopy – Lab on a Tip: Meyer, Hug, Bennewitz, Springer (2003)
  • Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications: Wiesendanger, Cambridge University Press (1994)