User:Arndt.Last: Difference between revisions

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== Arndt Last ==
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'''Funktionsbereich''': FuE1
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'''Aufgabengebiet''': Gruppenleitung Röntgenoptik
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'''e-mail''': mailto:arndt.last@kit.edu
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'''Stellvertreter''': [[Benutzer:Juergen.Mohr|Mohr, Jürgen]]
'''Stellvertreter''': [[User:Juergen.Mohr|Mohr, Jürgen]]


== Tätigkeitsbeschreibung ==
== Tätigkeitsbeschreibung ==


Gruppenleiter Röntgenoptik in FuE1
Gruppenleiter Röntgenoptik in F&E3-XOM


== Fertigkeiten/Kenntnisse ==
== Fertigkeiten/Kenntnisse ==
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*Optik, Röntgenoptik
*Optik, Röntgenoptik


== [[Abkürzungen - Abbreviations|PVA/Stellvertretender PVA]] für IMT-Projekte ==
== [[Abkürzungen - Abbreviations|PVA / Stellvertretender PVA]] für IMT-Projekte ==
* [[11-994W]]: Röntgenspiralspiegeloptiken (Stellv. PVA)
* [[10-919P]]: HEN-UV-Spektrometer II
* [[11-989P]]: HEN-UV-Spektrometer II
* [[10-971P]]: Teststrukturen mit Beugungskontrast (Stellv. PVA)
* [[10-924P]]: Imaging Test Pattern (Stellv. PVA)
* [[10-919P]]: HEN-Spektrometer
* [[10-919P]]: HEN-Spektrometer
* [[10-912W]]: Röntgenmikroskop (Stellv. PVA)
* [[10-893P]]: BImP Raman-Spektrometer
* [[10-893P]]: BImP Raman-Spektrometer
* [[10-874P]]: THz-Filter KNMF
* [[10-874P]]: THz-Filter KNMF
* [[10-866W]]: Röntgenkondensoroptiken (Stellv. PVA)
* [[08-762P]]: Röntgenlinsen mit Fokus unter 30 nm (Stellv. PVA)
* [[08-732P]]: Siemens Goldlinien (Stellv. PVA)
* [[08-721R]]: Innovative Röntgenoptiken
* [[08-721R]]: Innovative Röntgenoptiken
* [[07-648P]]: INNOLIGA SU-8 (Stellv. PVA)
* [[06-569W]]: Röntgenlinsen mit großer Apertur (Stellv. PVA)
* [[06-544W]]: Achromatische Röntgenlinsen (Stellv. PVA)
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* [[06-540P]]: Ramanspektrometer
* [[06-530P]]: Spektrometerformeinsaetze für BimP (Stellv. PVA)
* [[06-521P]]: Fertigungsprozess Röntgenlinsen
* [[06-521P]]: Fertigungsprozess Röntgenlinsen
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* [[06-540P]]: Ramanspektrometer
* [[05-505P]]: Flaggschiffprojekt Röntgenlinsen
* [[05-505P]]: Flaggschiffprojekt Röntgenlinsen
* [[05-466P]]: UV-Spektrometer hochauflösend Heraeus
* [[05-466P]]: UV-Spektrometer hochauflösend Heraeus
* [[05-443F]]: Substrat mit Gitter (NEMO)
* [[05-413K]]: Spektrometer 0603_00_A0 Erstmuster
* [[04-333F]]: VIS-Hohlwellenleiterspektrometer Blaze 420 modif. korr.
* [[03-277P]]: Testmaske Schreibparameter Ebeam für Gitter
* [[03-202F]]: Blaze 420 Spektrometer II
* [[02-093R]]: Hymosens konfokaler Innenlochsensor (Stellv. PVA)
* [[02-045R]]: Optimierung Spektrometer-Maskentechnik
* [[02-045R]]: Optimierung Spektrometer-Maskentechnik
* [[02-030W]]: Großflächiges Spektrometer (Stellv. PVA)
* [[02-007F]]: Blaze 420 Spektrometer
* [[00-098W]]: FT-Spektrometer (Stellv. PVA)
* [[00-146R]]: NIR 1100
* [[00-105V]]: Formeinsatzentwicklung Layout 0603-01-A1
* [[00-105V]]: Formeinsatzentwicklung Layout 0603-01-A1


== Veröffentlichungen ==
== Veröffentlichungen ==
[http://www.arndt-last.de/index.php?option=com_content&view=article&id=31&Itemid=25 Veröffentlichungen]
Veröffentlichungsliste


== Weitere Aufgaben am IMT ==
== Weitere Aufgaben am IMT ==
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*Vorlesung "Grundlagen der Röntgenoptik"
*Vorlesung "Grundlagen der Röntgenoptik"
*Praktikum "Mikrosystemtechnik"
*Praktikum "Mikrosystemtechnik"
*Stellvertreter von FBL Jürgen Mohr
*Stellvertreter von FBL Dr. Jürgen Mohr

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<!-- Weitere Kategorien: FuEX, -->
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[[Kategorie:Mitarbeiter - Employees]]
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English Version

Arndt Last

Arndt Last

Funktionsbereich: F&E3-XOM

Aufgabengebiet: Gruppenleitung Röntgenoptik

Bau: 310

Raum: 357

Telefon: 0721-608-23817

e-mail: mailto:arndt.last@kit.edu

Stellvertreter: Mohr, Jürgen

Tätigkeitsbeschreibung

Gruppenleiter Röntgenoptik in F&E3-XOM

Fertigkeiten/Kenntnisse

Geräte

  • Röntgendetektor von Optique-Peter
  • Röntgendetektor mit Detektoren: PCO4000, Nikon D4/D800E und Szintillatoren: LSO, Phosphor

Prozesse

  • Mikrospektrometermontage
  • Montage von gekreuzten Röntgenlinsen (CRLs) mit Punktfokus aus zwei CRLs mit Linienfokus

Software

Matlab, VBA, Pascal, html, Excel, SolidEdge, Joomla, Zemax

Sonstiges

  • Optik, Röntgenoptik

PVA / Stellvertretender PVA für IMT-Projekte

  • 11-994W: Röntgenspiralspiegeloptiken (Stellv. PVA)
  • 11-989P: HEN-UV-Spektrometer II
  • 10-971P: Teststrukturen mit Beugungskontrast (Stellv. PVA)
  • 10-924P: Imaging Test Pattern (Stellv. PVA)
  • 10-919P: HEN-Spektrometer
  • 10-912W: Röntgenmikroskop (Stellv. PVA)
  • 10-893P: BImP Raman-Spektrometer
  • 10-874P: THz-Filter KNMF
  • 10-866W: Röntgenkondensoroptiken (Stellv. PVA)
  • 08-762P: Röntgenlinsen mit Fokus unter 30 nm (Stellv. PVA)
  • 08-732P: Siemens Goldlinien (Stellv. PVA)
  • 08-721R: Innovative Röntgenoptiken
  • 07-648P: INNOLIGA SU-8 (Stellv. PVA)
  • 06-569W: Röntgenlinsen mit großer Apertur (Stellv. PVA)
  • 06-544W: Achromatische Röntgenlinsen (Stellv. PVA)
  • 06-540P: Ramanspektrometer
  • 06-530P: Spektrometerformeinsaetze für BimP (Stellv. PVA)
  • 06-521P: Fertigungsprozess Röntgenlinsen
  • 05-505P: Flaggschiffprojekt Röntgenlinsen
  • 05-466P: UV-Spektrometer hochauflösend Heraeus
  • 05-443F: Substrat mit Gitter (NEMO)
  • 05-413K: Spektrometer 0603_00_A0 Erstmuster
  • 04-333F: VIS-Hohlwellenleiterspektrometer Blaze 420 modif. korr.
  • 03-277P: Testmaske Schreibparameter Ebeam für Gitter
  • 03-202F: Blaze 420 Spektrometer II
  • 02-093R: Hymosens konfokaler Innenlochsensor (Stellv. PVA)
  • 02-045R: Optimierung Spektrometer-Maskentechnik
  • 02-030W: Großflächiges Spektrometer (Stellv. PVA)
  • 02-007F: Blaze 420 Spektrometer
  • 00-098W: FT-Spektrometer (Stellv. PVA)
  • 00-146R: NIR 1100
  • 00-105V: Formeinsatzentwicklung Layout 0603-01-A1

Veröffentlichungen

Veröffentlichungen

Weitere Aufgaben am IMT

  • Schwerpunktverantwortlicher "SP33 Mikrosystemtechnik"
  • Vorlesung "Grundlagen der Röntgenoptik"
  • Praktikum "Mikrosystemtechnik"
  • Stellvertreter von FBL Dr. Jürgen Mohr
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