Focused Ion Beam (FIB): Difference between revisions
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'''Geräteverantwortliche/Operateure:''' [http://www.int.kit.edu/staff_torsten.scherer.php Torsten Scherer] |
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'''Standort:''' [http://www.int.kit.edu Institut für Nanotechnologie (INT)] |
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== Spezifikationen des Geräts == |
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== Eingewiesene Nutzer == |
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* [http://www.int.kit.edu/staff_torsten.scherer.php Torsten Scherer] |
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Latest revision as of 19:15, 19 November 2016
Gerätebezeichnung: Focused Ion Beam (FIB)
Geräteverantwortliche/Operateure: Torsten Scherer
Standort: Institut für Nanotechnologie (INT)
Kurzbeschreibung
Alternativen
ohne Trennfunktion:
- REM
- AFM
