Focused Ion Beam (FIB): Difference between revisions
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Revision as of 18:41, 14 March 2014
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Gerätebezeichnung: Focused Ion Beam (FIB)
Geräteverantwortliche/Operateure: Torsten Scherer
Standort: Institut für Nanotechnologie (INT)
Kurzbeschreibung
Alternativen
ohne Trennfunktion:
- REM
- AFM
