EQE Measurement system: Difference between revisions
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'''Prüfmittel-/Fertigungsmittelnummer:''' XXXX |
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'''Gerätebezeichnung:''' Metricon Model 2010/M Prism Coupler |
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'''Specification number:''' SP-XXXX |
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'''Geräteverantwortliche/Operateure:''' [[Benutzer:Stephan.Dottermusch|Stephan Dottermusch]] |
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== Short description == |
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'''Spezifikations-Nummer:''' SP-281258.00 |
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Device for the measurement of the external quantum efficiency (EQE) of a solar cell. |
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== Alternatives == |
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== Specifications of the device == |
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Gerät zur präzisen Bestimmung des Brechungsindex und auch Schichtdicken. |
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*Wavelength: 300nm-1100nm |
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== Alternativen == |
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*Bias light: white, blue, red |
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Ellipsometer |
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*Sample size: 100 x 100 mm |
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== Spezifikationen des Geräts == |
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== Established Processes == |
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*Wellenlänge: 639.8 (erweiterbar) |
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*Brechungsindex: 1 - ca 2.5 |
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== Restrictions == |
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*Probengröße: nur Dicke limitiert - ca 1,5cm |
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*Optoelektronische Messungen möglich. |
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[[Category:F&E4]] |
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== Eingewiesene Nutzer == |
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[[Benutzer:Stephan.Dottermusch | Dottermusch, Stephan]] |
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Latest revision as of 15:26, 10 April 2018
Device name: Oerlikon QUE System V2.0
Device responsibles/Operators: Stephan Dottermusch, Malte Langenhorst
Location: R203
Prüfmittel-/Fertigungsmittelnummer: XXXX
Specification number: SP-XXXX
Short description
Device for the measurement of the external quantum efficiency (EQE) of a solar cell.
Alternatives
Specifications of the device
- Wavelength: 300nm-1100nm
- Bias light: white, blue, red
- Sample size: 100 x 100 mm
