EQE Measurement system: Difference between revisions

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'''Gerätebezeichnung:''' Oerlikon QUE System V2.0
'''Gerätebezeichnung:''' Metricon Model 2010/M Prism Coupler


'''Geräteverantwortliche/Operateure:''' Efthymios Klampaftis, [[Benutzer:Malte.Langenhorst|Malte Langenhorst]]
'''Geräteverantwortliche/Operateure:''' [[Benutzer:Stephan.Dottermusch|Stephan Dottermusch]]


'''Standort:''' R203
'''Standort:''' R203


'''Prüfmittel-/Fertigungsmittelnummer:''' XXXX


'''Spezifikations-Nummer:''' SP-XXXX
'''Spezifikations-Nummer:''' SP-281258.00




== Kurzbeschreibung ==
== Kurzbeschreibung ==


Gerät zur Messung der externen Quanteneffizienz (EQE) einer Solarzelle.
Gerät zur präzisen Bestimmung des Brechungsindex und auch Schichtdicken.


== Alternativen ==
== Alternativen ==

Ellipsometer


== Spezifikationen des Geräts ==
== Spezifikationen des Geräts ==


*Wellenlänge: 300nm-1100nm
*Wellenlänge: 639.8 (erweiterbar)

*Bias light: white, blue, red

*Probengröße: 100 x 100 mm


*Brechungsindex: 1 - ca 2.5
== Etablierte Prozesse ==


*Probengröße: nur Dicke limitiert - ca 1,5cm


*Optoelektronische Messungen möglich.
== Einschränkungen ==





Revision as of 13:06, 28 October 2016


English Version

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Gerätebezeichnung: Metricon Model 2010/M Prism Coupler

Geräteverantwortliche/Operateure: Stephan Dottermusch

Standort: R203


Spezifikations-Nummer: SP-281258.00


Kurzbeschreibung

Gerät zur präzisen Bestimmung des Brechungsindex und auch Schichtdicken.

Alternativen

Ellipsometer

Spezifikationen des Geräts

  • Wellenlänge: 639.8 (erweiterbar)
  • Brechungsindex: 1 - ca 2.5
  • Probengröße: nur Dicke limitiert - ca 1,5cm
  • Optoelektronische Messungen möglich.


Eingewiesene Nutzer

Dottermusch, Stephan


Kategorie:Geräte - Devices