EQE Measurement system: Difference between revisions

Revision as of 13:09, 28 October 2016

Gerätebezeichnung: Oerlikon QUE System V2.0

Geräteverantwortliche/Operateure: Efthymios Klampaftis, Malte Langenhorst

Standort: R203

Prüfmittel-/Fertigungsmittelnummer: XXXX

Spezifikations-Nummer: SP-XXXX

Gerät zur Messung der externen Quanteneffizienz (EQE) einer Solarzelle.

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-'''Gerätebezeichnung:''' Metricon Model 2010/M Prism Coupler
+'''Gerätebezeichnung:''' Oerlikon QUE System V2.0
-'''Geräteverantwortliche/Operateure:''' [[Benutzer:Stephan.Dottermusch|Stephan Dottermusch]]
+'''Geräteverantwortliche/Operateure:''' Efthymios Klampaftis, [[Benutzer:Malte.Langenhorst|Malte Langenhorst]]
 '''Standort:''' R203
+'''Prüfmittel-/Fertigungsmittelnummer:''' XXXX
-'''Spezifikations-Nummer:''' SP-281258.00
+'''Spezifikations-Nummer:''' SP-XXXX
 == Kurzbeschreibung ==
-Gerät zur präzisen Bestimmung des Brechungsindex und auch Schichtdicken.
+Gerät zur Messung der externen Quanteneffizienz (EQE) einer Solarzelle.
 == Alternativen ==
-Ellipsometer
 == Spezifikationen des Geräts ==
-*Wellenlänge: 639.8 (erweiterbar)
+*Wellenlänge: 300nm-1100nm
+*Bias light: white, blue, red
+*Probengröße: 100 x 100 mm
+== Etablierte Prozesse ==
-*Brechungsindex: 1 - ca 2.5
-*Probengröße: nur Dicke limitiert - ca 1,5cm
+== Einschränkungen ==
-*Optoelektronische Messungen möglich.