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Nanotechnologie für Ingenieure und Naturwissenschaftler

Nanotechnologie für Ingenieure und Naturwissenschaftler
Type: Lecture
Semester: SS 2018
Time:

Thu, 14:00 - 15:30 weekly
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III
2018-04-19
14:00 - 15:30

2018-04-26
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-05-03
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-05-17
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-05-24
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-06-07
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-06-14
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-06-21
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-06-28
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-07-05
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-07-12
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2018-07-19
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107) 50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

Start: 19.04.2018
Lecturer:

PD Dr. Hendrik Hölscher
Prof. Dr. Martin Dienwiebel (IAM-CMS)
Dr. Stefan Walheim (INT)

SWS: 2
Lv-No.: 2142861
Exam: Mündliche Prüfung nach Absprache
Information:

Voraussetzung zur Teilnahme sind Grundkenntnisse in Physik, Chemie und Mathematik.

Ziele und Inhalt:

In der Vorlesung werden die wichtigsten Prinzipien der Rastersensormethoden zur Analyse von Oberflächen vorgestellt. Insbesondere folgende Schwerpunkte werden behandelt:

  • Einführung in die Nanotechnologie
  • Geschichte der Rastersondenmethoden
  • Rastertunnelmikroskopie
  • Rasterkraftmikroskopie
  • Reibungskraftmikroskopie und Nanotribologie
  • Nanolithographie

Literatur:

  • Folien zur Vorlesung und Originalliteratur werden in der Vorlesung verteilt.
  • Scanning Probe Microscopy – Lab on a Tip: Meyer, Hug, Bennewitz, Springer (2003)
  • Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications: Wiesendanger, Cambridge University Press (1994)