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Nanotechnologie für Ingenieure und Naturwissenschaftler

Nanotechnologie für Ingenieure und Naturwissenschaftler
Type: Lecture
Semester: SS 2019
Time:

Thu, 14:00 - 15:30 weekly
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III
2019-04-25
14:00 - 15:30

2019-05-02
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-05-09
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-05-16
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-05-23
14:00 - 15:30
Achtung! Anderer Hörsaal!
10.50 Raum 701.3
10.50 Kollegiengebäude Bauingenieure II

2019-06-06
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-06-13
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-06-27
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-07-04
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-07-11
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-07-18
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

2019-07-25
14:00 - 15:30
50.31 Bauingenieure Seminarraum 107 (SR 107)
50.31 Bauingenieure, Kollegiengebäude III

Start: 25.04.2019
Lecturer:

Prof Dr. Hendrik Hölscher
Prof. Dr. Martin Dienwiebel (IAM-CMS)
Dr. Stefan Walheim (INT)

SWS: 2
Lv-No.: 2142861
Exam: Mündliche Prüfung nach Absprache
Information:

Voraussetzung zur Teilnahme sind Grundkenntnisse in Physik, Chemie und Mathematik.

Ziele und Inhalt:

In der Vorlesung werden die wichtigsten Prinzipien der Rastersensormethoden zur Analyse von Oberflächen vorgestellt. Insbesondere folgende Schwerpunkte werden behandelt:

  • Einführung in die Nanotechnologie
  • Geschichte der Rastersondenmethoden
  • Rastertunnelmikroskopie
  • Rasterkraftmikroskopie
  • Reibungskraftmikroskopie und Nanotribologie
  • Nanolithographie

Literatur:

  • Folien zur Vorlesung und Originalliteratur werden in der Vorlesung verteilt.
  • Scanning Probe Microscopy – Lab on a Tip: Meyer, Hug, Bennewitz, Springer (2003)
  • Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications: Wiesendanger, Cambridge University Press (1994)