Beschreibung der Arbeit

Work's Description

Rasterkraftmikroskopie (AFM) ermöglicht das Abbilden der Topographie von Nano- und Mikrostrukturen. Dabei sind Hinterschneidungen und Überhänge oft nicht erfassbar. Im Rahmen dieser Arbeit soll eine Rotations- und Tiltstage entworfen, gebaut und getestet werden, die es ermöglicht Messobjekte aus mehreren Winkeln zu scannen und die Messergebnisse in einer Analysesoftware zusammenzusetzen. Die Stage kann zum Beispiel aus 3D-Druckteilen gefertigt werden, wie in  https://doi.org/10.48550/arXiv.2401.11541 realisiert.

Atomic force microscopy (AFM) makes it possible to image the topography of nano- and microstructures. However, undercuts and overhangs are often not detectable. The aim of this project is to design, build and test a rotation and tilt stage that enables measurement objects to be scanned from multiple angles and the measurement results to be compiled in analysis software. The stage can be manufactured from 3D printed parts, for example, as realized in https://doi.org/10.48550/arXiv.2401.11541.

Personal Qualifications:

CAD, erste Programiererfahrung z.B. in Python (first programming experience, preferably Python), 3D-Druck-interessiert (3d printing)

Contraact's Duration:  3 - 6 Monaten (3-6 Months)

Eintrittstermin: ab sofort (immediately)

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Technical Contact

Dipl.-Ing. Cornelia Pichler
Karlsruher Institut für Technologie
Institut für Mikrostrukturtechnik
Postfach 3640
76021 Karlsruhe

Telefon: +49 721 608-23128
E-Mail: cornelia pichler∂partner kit edu